Résumé :
Les composants semi-conducteurs de puissance sont de plus en plus employés dans des applications critiques, notamment dans le domaine des transports, et subissent des contraintes significatives, dégradant ainsi leur fonctionnement. Dans de telles applications, ces dégradations peuvent activer la défaillance des composants de puissance et ainsi avoir des conséquences graves d'un point de vue économique et de la sécurité. Il existe alors une forte demande concernant le développement de nouvelles techniques de caractérisations pour le suivi de leur vieillissement.
Le suivi de l'évolution de paramètres de l'oxyde de grille de véhicules tests par le biais de la méthode Capacité-Tension (ou C(V)) et de la méthode de l'onde thermique (ou MOT), ainsi que leur adaptation à des composants semi-conducteurs de puissance, constituent l'essentiel du travail de cette thèse.
Le couplage de la MOT à la C(V) a permis de déduire la localisation des charges dans l'oxyde de grille des échantillons tests lorsqu'ils ont été soumis à des contraintes électriques similaires à celles subies dans les systèmes de conversion d'énergie.
Des variations de la capacité grille-collecteur d'IGBTs à injection améliorée ont été mis en évidence lors de l'application de contraintes suivant un protocole reproduisant leur utilisation dans la traction. Ces variations peuvent être reliées à une évolution de l'état de l'oxyde des IGBTs corrélée avec son état opérationnel.