L'utilisation de la microscopie de champ proche optique SNOM reste très limitée dû aux difficultés de mise en œuvre instrumentale. La sonde de champ proche est le cœur du microscope et la maîtrise de son utilisation (suppression d'un certain nombre de réglages optiques) constitue la clé technique de l'accès de cette méthode à un plus grand nombre d'utilisateurs.

Ces travaux de thèse s'effectuent dans le contexte d'un projet qui consiste à réaliser la preuve de concept d'une sonde novatrice en matériau hybride organique/minéral qui constitue une classe de matériaux particulièrement bien adaptée aux applications en optique intégrée et présente des avantages technologiques, optiques et mécaniques importants. Les caractéristiques dimensionnelles optimales de la sonde sont obtenues à l'aide de simulation en étudiant l'influence de l'épaisseur de la sonde et de la taille de l’ouverture dans la pointe sur la propagation de la lumière dans la sonde. Cette dernière est réalisée selon un procédé de fabrication utilisant les techniques de la microélectronique. Une caractérisation optique et mécanique du matériau de la sonde et des structures levier sont aussi présentées dans ce manuscrit. Une intégration d'un filtre en longueur d'onde sur le levier de la sonde permet de supprimer un certain nombre de réglages optiques délicats que nécessite le SNOM ce qui offre la possibilité d’utilisation à des personnes non spécialistes en optique.

 

 

Mardi 11 Juin 2013, à 13H30 en salle de cours 1.01 du bâtiment 1

MOURCHED Bachar
Université Montpellier 2
IES, Institut d'Electronique du Sud
Groupe TéHO
Place Eugène bataillon,CC83
34095 Montpellier Cedex 5
France
tel 33(0)4 67 14 38 23