L’industrie automobile est rentrée dans une nouvelle ère avec l’émergence en masse des Véhicules Electriques (VE). L’électronique embarquée est devenue plus complexe et plus performante. Ce développement et cette intégration technologique croissante a exposé l’électronique automobile à la contrainte radiative atmosphérique qui n’était alors que la préoccupation des acteurs du spatial et de l’aéronautique. Que ce soit pour l’environnement spatial ou atmosphérique les composants de puissance constituent le cœur des systèmes de conversion d’énergie et requiert donc un haut niveau de fiabilité tout au long de leur durée de vie. Le besoin en puissance électrique du VE a entrainé une évolution des technologies embarquées. Parmi, les composants utilisés dans les systèmes de conversion de puissance, des transistors bipolaires à grille isolée (IGBT) de spécification électrique 600V et 1200V ont été introduits afin d’assurer des applications aussi critiques que la traction du véhicule. Du fait de leur fort champ électrique interne, les IGBT sont des composants sensibles à la défaillance induite par les radiations.    Ce travail de thèse vise à identifier les évènements singuliers responsables de la défaillance et à évaluer les niveaux de sensibilité de l’IGBT vis-à-vis de l’environnement neutronique atmosphérique.

Le vendredi 05 Septembre 2014, à 10h30 à l’amphithéâtre 10.01 du campus de Triolet
(2 Place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex 5)